“在各個領(lǐng)域，理學(xué)現(xiàn)在都是。”

不僅是日本，活躍在世界各地前沿領(lǐng)域的研究人員和工程師不僅是我們的客戶，也是推動理學(xué)研發(fā)不可或缺的重要合作伙伴。 理學(xué)和我們的合作伙伴的大腦結(jié)合在一起創(chuàng)造的產(chǎn)品為許多領(lǐng)域做出了貢獻，包括半導(dǎo)體、能源、環(huán)境和制藥。

• 單晶X射線衍射儀（XtaLAB Synergy）用于蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)的闡明等研究，這些對于**發(fā)現(xiàn)是必不可少的
• 粉末X射線衍射儀（MiniFlex）用于**的晶體多態(tài)性分析
• 我們通過同步熱分析和質(zhì)譜分析儀（TG-MS）等技術(shù)深入?yún)⑴c未來的開發(fā)，該分析儀可檢查**熔化時產(chǎn)生的氣體成分。
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在材料科學(xué)領(lǐng)域，

我們被各種各樣的材料所包圍，包括金屬、塑料、生物材料和木材。 通過了解原子排列與材料性質(zhì)之間的關(guān)系，以及設(shè)計和創(chuàng)造適合目的和應(yīng)用的新材料，可以支持技術(shù)**的基礎(chǔ)。

理學(xué)

• 用于評估材料熱物理特性的熱分析儀 （Thermo plus EVO II）
• XRD-DSC同時測量熱變化和晶體狀態(tài)變化
• 我們支持先進材料的研究和開發(fā)，例如用于評估碳粉的保電特性和OLED劣化的熱刺激電流測量設(shè)備（TSC）。

在半導(dǎo)體和電子材料領(lǐng)域，

在21世紀，電子學(xué)正在開發(fā)在原子和分子水平上受控的材料，開發(fā)積極利用極端世界中表達的特性和功能的設(shè)備，并通過融合電子和光來開發(fā)新的功能設(shè)備和應(yīng)用系統(tǒng)。

理學(xué)

• TXRF，一種全內(nèi)反射X射線熒光光譜儀，利用X射線的全反射現(xiàn)象來確定晶圓表面超痕量污染物的組成和結(jié)構(gòu)，以及用于薄膜評估的水平X射線衍射儀（SmartLab）
• 我們支持基本的電子技術(shù)，例如用于評估CD和其他產(chǎn)品中使用的高密度磁膜的X射線衍射儀，以及用于評估化合物半導(dǎo)體晶體結(jié)構(gòu)的X射線衍射儀。
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在納米技術(shù)領(lǐng)域，

它是一種處理超精細世界的技術(shù)，通過自由操縱和控制在原子和分子水平上發(fā)生的現(xiàn)象，正在實現(xiàn)具有所需特性的材料和表達所需功能的裝置。 這些優(yōu)良的功能有望應(yīng)用于材料、信息技術(shù)、生物技術(shù)、醫(yī)藥、環(huán)境和能源等各個領(lǐng)域。

理學(xué)

• 納米級X射線結(jié)構(gòu)評估系統(tǒng)（NANOPIX），用于評估燃料電池中液晶、離子交換膜和生物材料的納米結(jié)構(gòu)
• 我們正在為納米級階次的測量和分析做出貢獻，這些階數(shù)變得越來越重要，例如小角散射測量設(shè)備（SmartLab，一種多用途X射線衍射儀）和粒徑和孔徑分析軟件（NANOSolver），用于研究金納米顆粒和低k薄膜的納米孔。

在環(huán)境、資源和能源領(lǐng)域，
為了與地球環(huán)境和諧相處，不斷發(fā)展科學(xué)技術(shù)，人類正在研究保護地球的各種問題，例如與未來能源利用和資源開發(fā)相關(guān)的基礎(chǔ)科學(xué)、大氣環(huán)境分析以及將環(huán)境放在首位的制造業(yè)。
理學(xué)

• X射線熒光光譜儀（ZSX）有助于開發(fā)回收材料
• X射線衍射儀，用于檢查石棉的存在，石棉已被用作建筑物的耐火劑
• 我們支持環(huán)保技術(shù)和生產(chǎn)活動的開發(fā)，例如在現(xiàn)場測量土壤、塑料和合金中有毒金屬的便攜式成分分析儀。  
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在過程分析領(lǐng)域，

在生產(chǎn)過程管理中，必須檢查產(chǎn)品質(zhì)量并向過程提供反饋，并且需要“更快”和“更準(zhǔn)確”的分析方法。 此外，從原材料的接收到運輸產(chǎn)品和廢物的管理，對環(huán)境的考慮對于未來的生產(chǎn)系統(tǒng)至關(guān)重要，“元素分析”對于監(jiān)測和控制的重要性正在增加。
理學(xué)

• 掃描X射線熒光光譜儀（ZSX），用于分析水泥、金屬和陶瓷等原材料
• 用于快速過程控制的多元素同步X射線熒光光譜儀（模擬）
• 我們?yōu)榕c過程控制、質(zhì)量控制和環(huán)境管理相關(guān)的元素分析做出貢獻，例如用于實時管理鍍層厚度和成分的在線附著力計（X射線熒光分析儀）。
• 日本Rigak理學(xué)儀器株會社:x線粉未行射儀，熒光光譜儀，日本Rigaku理學(xué)儀器株會社:Rigaku理學(xué)射線粉未行射儀，Rigak理學(xué)熒光光譜儀，日本Rigaku理學(xué)儀器 x對線粉未行射儀,日本Rigaku理學(xué)儀器熒光光譜儀。X射線行射儀(包括粉未X射線行射儀(PXRD)、單晶X射線行射儀(SXRD)等)、熱分析儀(包括SKImMET/PI-TG-MS、STA、DSC、TMA等)、X射線應(yīng)力分析儀、X射線小角散射儀(包括材料小角、生物小角)等產(chǎn)品。